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光纜線路大衰耗點産生的原因及處理方法

发布时间:2020-01-02 ?? 点击次数:次 ??

  在光纜线路的施工中,光纜线路的衰耗指标是一项重要的考核指标,不但要考核施工完毕的光纜线路的光纤平均损耗系数,还要考核光纜线路光纤散射曲线,光纜线路的平均损耗系数和总损耗不但要符合设计要求,还要符合施工规范和验收标准的指标要求,而且要求光纤散射曲线比较均匀,曲线上不应出现较大的衰耗台阶,以保证光纜线路的光特性技术指标符合施工规范和验收标准的要求。

室内光纜

  光纜大衰耗点产生的几种现象和原因

  1敷設時産生的大衰耗點

  在光纜施工中,由于光纜敷设长度一般在2~3KM直埋敷设时,穿越的障碍物较多,在施工中,敷设人员较多,敷设距离较远,难以保证所有敷设人员协调行动,特别是通过障碍物较多时,如:穿越防护钢管,拐弯、上下坡等,从而出现俗称的光纜打背扣(出现死弯)现象,对光纜造成严重伤害,一旦发生死弯现象,此处必然会出现一个大衰耗点,严重的会发生部分或全部光纤断裂现象,这是光纜施工中容易出现的故障现象。此外,在敷设光纜时,光纜端头的光纜容易受到损伤,在接续时,往往在接续点处显示有较大衰耗值,此时,即使多次重复熔接,也不能降低接续损耗值,从而形成一个较大的衰耗点。

  2接續過程中産生的大衰耗點

  在光纜接续过程中,产生大衰耗点是经常发生的,我们一般用OTDR(光时域反射仪)进行监测,即每熔接一根光纤,都用OTDR测试一下熔接点的衰耗值,具体测试时,采用双向监测法,由于光纤制造过程中存在的差异性,两根光纤不可能完全一致,总是存在模场直径不一致现象,从而导致了用OTDR所测的损耗值并不是接续点的实际损耗值,其数值有正有负,一般用双向测试值的算术平均值作为实际衰耗值。在接续时,一般用实时监测法,基本能保证熔接损耗达到控制目标,但经常产生大损耗点的原因是在熔接完毕后进行光纤收容时,部分光纤受压或弯曲半径过小,即形成一个大衰耗点。因为1550nm波长的光纤对微弯损耗非常敏感,光纤一旦受压,即产生一个微弯点,或盘纤时,弯曲半径过小,光纤信号在此处也产生较大的衰耗,表现在光纤后向散射曲线上,就形成了一个较大的衰耗台阶;另外,一个比较容易忽视的原因是光纜接头盒组装完成后,固定接头盒和固定光纜时,由于光纜在接头盒内固定的不是很牢固,造成光纜拧转,使光纤束管变形,由于光纤受压,造成光纤衰耗值急剧增加,形成衰耗台阶。

  3運輸和裝卸造成的大衰耗點

  在光纜运输到施工现场时,由于现场环境比较恶劣,特别是敷设铁路通信光纜时,吊车往往无法到达施工现场,此时,常常是通过人力装卸光纜,在光纜卸下的过程中,外层光纜经常受到损伤,原因是光纜盘直径过小,导致外层光纜离地面距离过近,由于现场地面土质软硬不一,崎岖不平,在滚动光纜盘的过程中,光纜盘陷入地面,导致外层光纜被地面硬物硌坏,主要原因是部分厂家为降低生产成本,采用较小的光纜盘。此外,光纜盘未用木板进行包封(有些是铁架光纜盘,无法用木板进行包封),而仅用塑料布在光纜外层进行包裹,或者是单盘测试后,光纜盘包封未恢复,起不到应有的防护作用,当光纜外层被石头等硬物硌伤后,光纤在束管中受压,即产生一个衰耗台阶,表现在光纤后向散射曲线上,就形成一个较大的衰耗点。

  4成端過程中産生的大衰耗點

  在光纜成端过程中,也经常会产生大衰耗点。在成端时,由于一般不进行熔接损耗监测,仅凭经验操作,因此,产生大衰耗点的几率也大增。此外,在光纤熔接后安装收容盘时,往往造成收容盘附近的光纤束管弯曲半径过小或造成光纤束管拧转变形,使光纤在此处产生一个较大的衰耗点,此类大衰耗点一般比较隐蔽,不像线路中间的大衰耗点用OTDR可以直接测出。


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